SEM/AFM-DME原子力顯微鏡高精度工作臺(tái)

供應(yīng)數(shù)量：1255

發(fā)布日期：2024/10/5

有效日期：2025/4/5

原產(chǎn) 地：丹麥

已獲點(diǎn)擊：1255

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詳細(xì)介紹

DME原子力顯微鏡高精度工作臺(tái)：
適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系
高精度工作臺(tái)：在亞微米的樣品定位精度下尋找和發(fā)現(xiàn)你的目標(biāo)區(qū)域（ROI）
樣品定位是流暢和有效工作流程的關(guān)鍵，尤其是當(dāng)樣品需要多種方法觀察或其處于自動(dòng)化進(jìn)程中
借助集成的參比光，定位精度優(yōu)于蔡司的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)可以達(dá)到的500nm
尋找和發(fā)現(xiàn)ROI的過(guò)程能夠被更可靠的執(zhí)行

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